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納米硅(nc-Si:H )/晶體硅(c-Si)異質結太陽電池的數值模擬分析
運用美國賓州大學發展的AMPS程序模擬分析了n-型納米硅(n+-nc-Si:H)/p-型晶體硅(p-c-Si)異質結太陽電池的光伏特性.分析表明,界面缺陷態是決定電池性能的關鍵因素,顯著影響電池的開路電壓(VOC)和填充因子(FF),而電池的光譜響應或短路電流密度(JSC)對緩沖層的厚度較為敏感.對不同能帶補償(bandgap offset)的情況所進行的模擬分析表明,隨著ΔEc的增大,由于界面態所帶來的開路電壓和填充因子的減小逐漸被消除,當ΔEc達到0.5eV左右時界面態的影響幾乎完全被掩蓋.界面層的其他能帶結構特征對器件性能的影響還有待進一步研究.最后計算得到了這種電池理想情況下(無界面態、有背面場、正背面反射率分別為0和1)的理論極限效率ηmax=31.17% (AM1.5,100mW/cm2,0.40-1.10μm波段).
廖顯伯,曾湘波,徐艷月,張世斌,刁宏偉,孔光臨(中國科學院半導體研究所,凝聚態物理中心,表面物理國家重點實驗室,北京,100083)
刊 名: 物理學報 ISTIC SCI PKU 英文刊名: ACTA PHYSICA SINICA 年,卷(期): 2003 52(1) 分類號: O4 關鍵詞: nc-Si:H/c-Si異質結 太陽電池 計算機模擬【納米硅(nc-Si:H )/晶體硅(c-Si)異質結太陽電池的數值模擬分】相關文章:
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