HT-7裝置軟X射線診斷系統(tǒng)及鋸齒行為研究

利用HT-7裝置上建立的多陣列軟X射線診斷系統(tǒng)對(duì)等離子體放電中的鋸齒不穩(wěn)定性進(jìn)行研究,發(fā)現(xiàn)鋸齒的出現(xiàn)及其行為特點(diǎn)與等離子體電子密度Ne、電子溫度Te、邊界安全因子qα、壁條件等放電參數(shù)有密切關(guān)系.在低雜波電流驅(qū)動(dòng)等離子體放電條件下,觀察到m/n=1/1的中間模振蕩出現(xiàn)在鋸齒的上升階段,并迅速發(fā)展、飽和、衰減,在鋸齒塌陷或先兆振蕩出現(xiàn)以前消失.分析和討論了歐姆加熱條件下和低雜波加熱條件下的鋸齒行為.

作 者： 段艷敏 陳開云 胡立群 DUAN Yan-min CHEN Kai-yun HU Li-qun   作者單位： 中國科學(xué)院等離子體物理研究所,合肥,230031  刊 名： 核聚變與等離子體物理  ISTIC PKU 英文刊名： NUCLEAR FUSION AND PLASMA PHYSICS  年，卷(期)： 2008 28(2)  分類號(hào)： O536 TL65  關(guān)鍵詞： 鋸齒振蕩   軟X射線診斷   低雜波電流驅(qū)動(dòng)   等離子體  

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