弱控制參數的去邊臨界圖研究

圖的束縛數是圖的控制數研究中的一個重要方面,它在某種程度上反映了圖的控制數對邊數的敏感度,而去邊臨界圖在圖的束縛數研究中又極其重要.本文主要研究圖的弱控制參數的去邊正臨界圖(γ+ωER-critical)和去邊負臨界圖(γ-ω-ER-critical),并分別給出了二次圖為去邊正臨界圖和去邊負臨界圖的充要條件.

作 者： 吳亞平 范瓊 WU Yaping FAN Qiong   作者單位： 吳亞平,WU Yaping(江漢大學,數學與計算機科學學院,武漢,430056;華中師范大學,數學與統計學院,武漢,430079)

范瓊,FAN Qiong(華中師范大學,數學與統計學院,武漢,430079) 

刊 名： 華中師范大學學報（自然科學版）  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF CENTRAL CHINA NORMAL UNIVERSITY(NATURAL SCIENCES)  年，卷(期)： 2008 42(3)  分類號： O157.5  關鍵詞： 弱控制   弱控制的束縛數   弱控制參數的去邊正臨界圖   弱控制參數的去邊負臨界圖  

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