等離子體X射線吸收譜及發射譜研究

報道了計算高溫高密等離子體吸收譜和發射譜(光學薄)的理論方法;該方法基于相對論原子理論,可以計算任何單元素以及多元素等離子體的譜分辨X射線吸收譜和發射譜光學薄;應用量子虧損理論可以減少計算量.利用該方法計算金等離子體LTE吸收譜,計算結果與實驗符合良好.對金等離子體LTE的光學薄發射譜進行了研究,這將有利于對實驗進行進一步的診斷分析.該理論計算方法可提供等離子體內各電離度能級布居等重要物理參數.因此經"標準實驗"檢驗的該理論計算方法將是提供ICF"精密"物理輻射參數的重要基礎.

作 者： 彭永倫 楊莉 王民盛 李家明   作者單位： 彭永倫,楊莉,王民盛(清華大學,物理系及原子分子納米科學中,心,北京,100084)

李家明(清華大學,物理系及原子分子納米科學中,心,北京,100084中國科學院,物理研究所,北京,100080) 

刊 名： 強激光與粒子束  ISTIC EI PKU 英文刊名： HIGH POWER LASER AND PARTICLE BEAMS  年，卷(期)： 2002 14(3)  分類號： O434.13  關鍵詞： X射線   等離子體   吸收譜   發射譜  

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