沉淀分離電感耦合等離子體原子發射光譜法測定高純銀中21種痕量元素

應用氯化銀沉淀法分離銀后,超聲霧化ICP-AES法測定高純銀中Al,Ca,Cr,Fe,Mg,Mo,Ni,Ti,Ba,Bi,Cd,Co,Cu,In,Li,Mn,Pb,Sn,V,Y及Zn 21種痕量元素.對銀沉淀時待測雜質元素的損失、光譜測定條件進行試驗.結果表明,當試液中10 mg/mL的銀被沉淀時,待測元素幾乎不與氯化銀共沉淀;在所選定的波長下測定,當鐵、鉻、鈣、鎳、鎂、鉛的質量濃度小于10μg/mL時沒有明顯光譜干擾.本法測定范圍為10～320μg/g,回收率在93%～105%之間,相對標準偏差在19%～11.4%范圍(n=6).

作 者： 侯列奇 王樹安 李潔 盛紅伍 盧菊生 HOU Lie-qi WANG Shu-an LI Jie SHUENG Hong-wu LU Ju-sheng   作者單位： 中國核動力研究設計院核燃料及材料國家重點實驗室,四川成都,610005  刊 名： 冶金分析  ISTIC PKU 英文刊名： METALLURGICAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 27(2)  分類號： O6  關鍵詞： 高純銀   微量元素   電感耦合等離子體原子發射光譜法  

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