液晶盒厚度的反射光譜擬合法測量

介紹了一種測量液晶盒厚度的新型光學方法--反射光譜擬合法.理論上,液晶盒的反射光譜呈正弦曲線,且曲線取極值時對應入射光波長大小值取決于所用液晶盒的厚度.反之亦然,當得知液晶空盒的反射光譜時,可以根據曲線取極值時入射光波長的值來獲得待測液晶盒的厚度.軟件用來搜索與實驗測試數據相互吻合的液晶盒厚度.該技術以白光作為液晶盒的前端光源,且白光入射角為0°.結果表明,該方法測量范圍5～30 μm,測量重復誤差0.1 μm以下.實驗中,光纖光譜儀用來測試反射光譜,并通過USB接口將其傳輸到計算機.該方法的優點是它可以在0.1 s內測試液晶盒表面任意點處的厚度,有較強的使用價值.

作 者： 康桂珍 黃子強 KANG Gui-zhen HUANG Zi-qiang   作者單位： 電子科技大學,光電信息學院,四川,成都,610054  刊 名： 液晶與顯示  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LIQUID CRYSTALS AND DISPLAYS  年，卷(期)： 2007 22(4)  分類號： O753.2  關鍵詞： 液晶盒   反射光譜   光譜擬合   LC cell   reflecting spectrum   optimal fitting  

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