硅灰石的X射線熒光光譜分析

將X射線熒光光譜法應(yīng)用于硅灰石中SiO2、CaO、Al2O3、Fe2O3、P2O5、MgO、K2O、TiO2、MnO的同時(shí)快速測定.試樣和混合熔劑的質(zhì)量比為1∶10,在此稀釋比時(shí)試樣在熔劑中的分散度(濃度)適當(dāng),可適應(yīng)各個(gè)組分的測定.熔融法分解試樣有效地消除了試樣的粒度效應(yīng)和礦物效應(yīng).采用理論α系數(shù)校正法克服了基體吸收及增強(qiáng)效應(yīng).用國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和樣品驗(yàn)證了方法的精密度和準(zhǔn)確度,其結(jié)果與化學(xué)分析值相符.

作 者： 羅明榮 LUO Ming-rong   作者單位： 四川大西洋焊接材料股份有限公司檢測所,四川,自貢,643010  刊 名： 巖礦測試  ISTIC PKU 英文刊名： ROCK AND MINERAL ANALYSIS  年，卷(期)： 2007 26(3)  分類號： O657.34 P578.94  關(guān)鍵詞： X射線熒光光譜法   硅灰石   混合熔劑   快速測定  

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