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微分代數在磁場分析器高階像差分析中的應用
將微分代數引入到磁場分析器任意高階的像差分析計算中.對一個實際的均勻扇形磁場分析器中的三階像差系數的微分代數數值結果和相應的解析解進行了比較,相對誤差不高于10-14,證明微分代數方法是一種具有極高精度的數值計算技術.
作 者： 程敏 唐天同 姚振華 王振華 作者單位： 西安交通大學電子與信息工程學院,710049,西安 刊 名： 西安交通大學學報 ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY 年，卷(期)： 2002 36(6) 分類號： O463.1 關鍵詞： 微分代數 磁場分析器 像差分析【微分代數在磁場分析器高階像差分析中的應用】相關文章：
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